赛灵思静态随机存储器型FPGA单粒子翻转检测

• 作者: 吕达 吴飞 陆华
• 来源期刊: 航天器工程
• 关键词: 现场可编程门阵列 单粒子翻转 配置存储器 检测
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 96-101
• 分类号: TN98
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8748.2010.06.017

摘要

以XILINX XC2V3000现场可编程门阵列(FPGA)为例,分别通过ICAP和Selectmap接口对配置存储器进行回读检测,并通过局部动态重构的方法实现了故障注入,对单粒翻转(SEU)检测方法进行验证.结果证明回读与重配置是进行FPGA抗SEU设计的有效方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕达		1	4	1.0	1.0
2	吴飞		1	4	1.0	1.0
3	陆华		2	6	2.0	2.0