螺旋线慢波结构色散特性与耦合阻抗测量系统误差分析

• 作者: 冯进军 李镇远 梁友焕
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 误差分析 慢波结构 螺旋线行波管 色散特性测量 耦合阻抗测量
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 51-54
• 分类号: TN124
• 字数: 4284字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2010.04.012

摘要

本文系作者研制的"螺旋线慢波结构冷特性自动测量系统"的补充,给出了此类系统测量误差的详细理论分析,并对典型数据进行了计算.结果表明色散特性(相光速比)的测量误差可小于0.5%,基波耦合阻抗的测量误差则可达15%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	冯进军	北京真空电子技术研究所大功率微波电真空器件技术国防科技重点实验室	84	447	12.0	17.0
2	李镇远	北京真空电子技术研究所大功率微波电真空器件技术国防科技重点实验室	5	18	3.0	4.0
3	梁友焕	北京真空电子技术研究所大功率微波电真空器件技术国防科技重点实验室	7	9	2.0	2.0