电感耦合等离子体质谱法测定高纯钴粉中杂质元素

• 作者: 易永 李翔 章新泉 苏亚勤 陈桂琴
• 来源期刊: 现代测量与实验室管理
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体质谱 高纯钴粉 杂质
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 计量测试
• 页码范围: 17-18
• 页数: 2页
• 分类号: O657.63
• 字数: 1772字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8764.2010.01.006

摘要

本文建立了电感耦合等离子测定高纯钴粉中多种杂质元素含量的分析方法.考察了测量过程等离子体中形成的多原子复合离子对待测元素产生的质谱干扰、基体元素对相邻待测元素的质谱叠加干扰及基体对待测元素产生的基体效应,引入内标元素Sc、In对因基体导致的抑制效应进行有效的补偿.加标回收率达到85～105%,方法的检出限为0.01～0.5μgg-1,相对标准偏差0.3～5.5%.本方法可以满足99.999%以上纯度金属钴粉的检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章新泉		24	237	9.0	14.0
2	易永		23	154	8.0	11.0
3	苏亚勤		16	115	7.0	10.0
4	李翔		17	114	7.0	10.0
5	陈桂琴		11	28	3.0	5.0