HPGe测量气体裂变产物中微量123Xe的理论模拟

• 作者: 余功硕 倪建忠 刘杰 师全林 张佳媚 解峰
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 123Xe 气体裂变产物 HPGe MCNP
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 1191-1195
• 分类号: TL817.2
• 字数: 2573字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.09.013

摘要

利用MCNP模拟计算了大量气体裂变产物中微量123Xe的HPGe γ能谱,分析了气体裂变产物对122Xe测量的影响,结果表明:直接测量气体样品中的123Xe是不可能的,但可以通过测量其子体123I来推算123Xe,推荐的测量方法是:对原始气体样品不做Kr/Xe分离,衰变6.59 h后,将气体去除,再衰变2 h后,采用HPGe测量123I.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张佳媚		14	44	3.0	6.0
2	解峰		20	27	3.0	4.0
3	师全林		26	30	2.0	5.0
4	刘杰		20	14	2.0	2.0
5	倪建忠		14	22	2.0	4.0
6	余功硕		13	9	2.0	2.0