大功率光纤连接器插损测试技术研究

• 作者: 宋贺伦 李华强 李太华 黄媛媛
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 插损 大功率 光纤连接器
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 光器件
• 页码范围: 46-48
• 页数: 3页
• 分类号: TN818
• 字数: 1879字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5561.2010.02.015

摘要

插入损耗是表征光纤连接器性能的重要光学参数,随着光纤在功率传输领域的应用,大功率(>1mW)光纤连接器的插损测量成为目前急待解决的技术.在搭建了测试平台的基础上,采用直接测量法对不同传输功率下光纤连接器的插入损耗进行了测量,试验结果表明插入损耗是随传输能量不断变化的,并存在一个功率值让其达到最小值,文中所用连接器的拐点在0.1W左右.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄媛媛		4	4	1.0	2.0
2	宋贺伦	中科院苏州纳米所	2	6	2.0	2.0
3	李华强		1	3	1.0	1.0
4	李太华		1	3	1.0	1.0