He气氛对大气颗粒物样品外束PIXE分析影响的初步研究

• 作者: 于今达 初钧晗 王广甫
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: 外束PIXE He气 大气颗粒物 探测限
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 研制与开发
• 页码范围: 55-57,48
• 页数: 4页
• 分类号: P4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2010.01.017

摘要

为改善北师大外束PIXE系统对Al、Si等较轻元素的探测限,在该系统探测器前加装进He装置.采用美国MicroMatter公司的标准样品,在进He量为92.0 SCCM(标况毫升每分钟)的条件下对系统进行刻度,得到GUPIXWIN软件进行定量分析用的16种元素的刻度因子,并同不进He条件下的刻度因子进行比较.在保持实验几何条件不变的情况下,研究He气量对大气颗粒物样品中Si、S、Cl等元素探测限的影响,结果表明:进He量为92.0 SCCM时,可使大气颗粒物样品中Al、Si元素的探测限较不进He气时分别降低80%和47%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王广甫	北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室	45	220	7.0	13.0
5	初钧晗	北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室	2	6	2.0	2.0
6	于今达	北京师范大学核科学与技术学院射线束技术与材料改性教育部重点实验室	1	3	1.0	1.0