基于FPGA的实验室常用芯片测试仪

• 作者: 任勇 任艳频 巫新民 秦俭 阎捷 陈莉平
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多芯片测试 现场可编程门阵列 上位机 智能控制
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 637-639
• 分类号: TN407
• 字数: 2397字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.07.005

摘要

针对电子技术实验无法进行多芯片同时测试的问题,提出了一种基于FPGA和上下位机联动配置技术的智能式多芯片测试方案.该方案实现了同一插槽测试不同芯片和集成电路测试台上多个芯片同时测试的功能.介绍了Verilog硬件描述语言编程下载和上位机控制方法与实现技术,有效解决了实验室常用芯片中不同类型芯片电源管脚上电的难题,利用FPGA器件实现了低功耗和系统可再编程升级,对于提高高校电子技术基础实验的水平和效率具有重要的实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	任勇	清华大学信息科学技术学院	89	1337	19.0	34.0
2	任艳频	清华大学信息科学技术学院	12	116	6.0	10.0
3	陈莉平	清华大学信息科学技术学院	9	55	5.0	7.0
4	秦俭	清华大学信息科学技术学院	7	65	3.0	7.0
5	阎捷	清华大学信息科学技术学院	4	34	3.0	4.0
6	巫新民	清华大学信息科学技术学院	1	1	1.0	1.0