熔丝类电路的修调探索

• 作者: 张鹏辉 王己钢
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 熔丝 修调 集成电路测试
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 24-27
• 分类号: TN402
• 字数: 2790字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.04.007

摘要

随着熔丝在电路设计中的应用普及,测试环节对熔丝修调的要求也越来越高,对测试人员提出了更大挑战.修调熔丝的目的是为了获得更精确的电压或者频率,按照制造材料和工艺可分为金属和多晶硅两种类型.不同的工艺结构决定了不同电路的熔丝有不同的特性,修调时需要针对具体电路具体分析,选择适宜的修调方案,并且编写简洁高效的修调程序.文章介绍了常见熔丝的特性,总结几种常用的修调熔丝方法,并分析了这些方法的各自特点,同时对修调熔丝的程序算法做了探讨.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张鹏辉	中国电子科技集团公司第五十八研究所	9	32	2.0	5.0
2	王己钢	中国电子科技集团公司第五十八研究所	1	21	1.0	1.0