电子元器件制造过程中非正态工艺参数的统计过程控制技术

• 作者: 游海龙 赵文平 黄玲
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元器件 统计过程控制 Box-Cox转换 非正态分布
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 绿色质量与管理
• 页码范围: 38-40
• 页数: 3页
• 分类号: TB114.2
• 字数: 2314字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.01.016

摘要

在制造过程中实施统计过程控制(SPC)技术,采用常规控制图其基本前提之一是工艺参数服从正态分布,但是在实际电子元器件制造中存在特殊工序,如封装工序等,其工艺参数不服从正态分布.文章针对非正态工艺参数的工艺过程控制,利用Box-Cox转换,将非正态工艺参数转换为正态,然后采用常规控制图,实现了非正态工艺参数的统计过程控制;结合模拟数据分析,结果显示该方法是有效性的、正确性的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	游海龙	西安电子科技大学微电子学院	21	187	8.0	13.0
2	赵文平	西安电子科技大学经济管理学院	47	567	13.0	23.0
3	黄玲	西安电子科技大学经济管理学院	2	5	1.0	2.0