变条长实验测量GaN增益时条宽的影响

• 作者: 于涛 李睿 杜为民 杨子文 王伟 王磊 胡晓东 邢兵
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 工学
• 关键词: GaN 条宽 变条长 模式增益 饱和长度
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 页码范围: 86-90
• 页数: 5页
• 分类号: O472.3|TN248.4
• 字数: 2260字
• 语种: 中文

摘要

研究了光学变条长实验中条的宽度对半导体激光器光增益测量的影响,提出利用光刻溅射处理样品来严格控制泵浦条的宽度,并详细研究了泵浦条宽度与样品增益及饱和长度关系.实验表明:泵浦条宽度越窄,饱和长度越长,但测得的增益系数有所减小.本文利用非平衡载流子扩散模型对此现象进行了解释.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜为民	北京大学物理学院	17	134	6.0	11.0
2	王伟	北京大学物理学院	118	881	16.0	26.0
3	于涛	北京大学物理学院	44	297	7.0	16.0
4	李睿	北京大学物理学院	16	68	5.0	8.0
5	邢兵	北京大学物理学院	2	16	1.0	2.0
6	王磊	北京大学物理学院	107	606	14.0	20.0
7	杨子文	北京大学物理学院	1	1	1.0	1.0
8	胡晓东	北京大学物理学院	5	5	2.0	2.0