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摘要:
随着CMOS工艺不断发展,芯片的集成度越来越高.存储器也向大容量、小体积发展.由于存储器容量的不断增加,存储器阵列在生产过程中出现缺陷的可能性将大大增加.为了提高产品的可靠性及经济利益,文章提出了利用硬件和软件冗余技术,将有误的数据及时发现并纠正.接下来分别介绍了硬件冗余和软件冗余的工作原理以及电路的实现方法,并验证了电路的正确性.此次工作,为目前的工作提供了技术基础,并为以后的EEPROM设计工作提供了良好的技术借鉴.
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文献信息
篇名 EEPROM冗余纠错设计技术
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 EEPROM 硬件冗余 软件冗余
年,卷(期) 2010,(2) 所属期刊栏目 电路设计
研究方向 页码范围 16-19
页数 4页 分类号 TN402
字数 2049字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.02.004
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王晓玲 中国电子科技集团公司第五十八研究所 10 29 4.0 4.0
2 张国贤 中国电子科技集团公司第五十八研究所 4 10 2.0 3.0
3 周昕杰 中国电子科技集团公司第五十八研究所 13 24 3.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
EEPROM
硬件冗余
软件冗余
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
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24
总被引数(次)
9543
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