"风云二号"卫星天线消旋失锁故障原因初步分析

• 作者: 焦维新 郑昊 魏彩英
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 天线消旋 故障分析 高能电子 内部充电
• 年，卷（期）: 2010,（4）
• 页码范围: 424-427
• 页数: 4页
• 分类号: V520.5|V443+.4
• 字数: 4262字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2010.04.004

摘要

文章针对"风云二号"C(FY-2C)卫星的天线消旋失锁事件,利用卫星数据统计分析了事件与高能电子之间的关系,并利用DICTAT软件针对常用于卫星的3种电介质材料--聚乙烯、聚四氟乙烯和环氧树脂的平板和圆柱模型分别计算其内部带电所能产生的最大电场.结果表明:FY-2C卫星的天线消旋失锁事件有可能是由高能电子导致的介质深层充电引起.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	焦维新	北京大学地球与空间科学学院	49	186	8.0	12.0
2	魏彩英		18	49	5.0	6.0
3	郑昊	北京大学地球与空间科学学院	1	8	1.0	1.0