一种双核SoC调试系统的设计与验证

• 作者: 虞致国 魏敬和
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 双核 调试系统 SystemVerilog直接编程接口 虚拟验证平台 JTAG
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 21-23,34
• 页数: 4页
• 分类号: TP31
• 字数: 1376字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.01.006

摘要

调试系统的设计和验证是多核SoC设计中的重要环节.基于某双核SoC的设计,提出一个片上硬件调试构架,利用FPGA构建该调试系统的硬件验证平台.双核SoC调试系统验证平台利用SystemVerilog DPI,将RealView调试器、Keil C51及目标芯片的验证testbench集成在一起,实现了双核SoC调试系统的RTL级调试验证.利用该平台,在RTL仿真验证阶段可方便地对ARM和8051核构成的双核SoC进行调试,解决仿真中出现的问题,从而有效缩短设计周期,并提高验证效率.该双核SoC调试系统验证平台的实现对其他系统芯片设计具有一定的参考价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	虞致国		30	143	6.0	10.0
2	魏敬和		69	261	7.0	13.0