CMM关键过程域剖析:缺陷预防

• 作者: 王磊 祝振宇
• 来源期刊: 科技广场
• 学科: 工学
• 关键词: 缺陷预防 正交缺陷分类法 CMM
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 243-245
• 分类号: TP311
• 字数: 2933字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4792.2010.05.075

摘要

缺陷预防的着眼点在于以往的缺陷原因分析,历史数据的量化分析,以及规划并实施一定的措施来减少项目的缺陷.本文主要介绍了缺陷分析的主要技术,提出了缺陷预防策略对软件过程的改进.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王磊	广东工业大学华立学院计算机系	18	96	6.0	9.0
2	祝振宇	广东工业大学华立学院计算机系	10	22	3.0	4.0