基于探针法的FED电极缺陷检测系统设计

• 作者: 姚亮 张杰 张永爱 许华安 郭太良
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: FED电极 CCD 单片机 Visual C++ 缺陷检测
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 器件制备技术及器件物理
• 页码范围: 215-219
• 分类号: TP391
• 字数: 3392字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2010.02.012

摘要

针对FED显示屏电极的特征,提出一种FED电极缺陷检测系统,用于检测FED电极的短路和断路等缺陷.系统分为硬件和软件两部分,硬件部分由CCD摄像头初始定位和对准模块、单片机数据测试和传输模块、计算机数据接收和处理模块组成;软件部分包括单片机预处理部分的底层程序设计和计算机部分面向对象的高级程序设计.经过硬件设计安装和软件编程调试,该FED电极缺陷检测系统已经在实验中得到应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭太良	福州大学场致发射显示技术教育部工程研究中心	302	1102	15.0	21.0
2	张永爱	福州大学场致发射显示技术教育部工程研究中心	57	199	8.0	11.0
3	张杰	福州大学场致发射显示技术教育部工程研究中心	10	51	4.0	7.0
4	许华安	福州大学场致发射显示技术教育部工程研究中心	4	3	1.0	1.0
5	姚亮	福州大学场致发射显示技术教育部工程研究中心	7	48	4.0	6.0