高功率电磁环境下C4ISR系统接口电路的阈值实验

• 作者: 吕承立 李智 柴焱杰 蔡士林 陶灵姣
• 来源期刊: 火力与指挥控制
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁脉冲 接口电路 耦合 敏感性 损伤
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 165-168
• 分类号: TP202
• 字数: 3174字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-0640.2010.07.048

摘要

采用非接触式电流脉冲注入法,设计了一种通用的接口电路实验模型和测试软件,进行了高功率电磁脉冲对指控系统接口电路的注入损伤实验,测量接口电路耦合电压和耦合电流,并对实验结果进行了分析.实验表明,强电磁能量耦合到电子装备和电气设备内部,可在其接口电路上产生过电压或过电流,从而使设备受到干扰和损伤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	柴焱杰		12	89	5.0	9.0
2	陶灵姣		10	43	3.0	6.0
6	吕承立		7	23	2.0	4.0
7	李智		14	108	6.0	10.0
8	蔡士林		1	1	1.0	1.0