北京谱仪-Ⅲ上D0介子半轻子衰变D0→K-e+veπ-e+ve的蒙特卡罗研究

• 作者: 李蕾 荣刚 马海龙
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 半轻子衰变 测量精度 衰变分支比 形状因子
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 1230-1235
• 分类号: O572.21
• 字数: 4616字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.09.022

摘要

通过分析e+e-→ψ(3770)→D-D,D-D衰变到所有可能末态的蒙特卡罗样本,模拟研究了实验测量D0介子半轻子衰变D0→K-e+veπ-e+ve的绝对分支比.蒙特卡罗事例经过北京谱仪-Ⅲ(BES-Ⅲ)探测器进行了完整的模拟.基于完整的蒙特卡罗模拟样本及物理分析,研究了在BES-Ⅲ上测量D0→K-e+veπ-e+ve衰变分支比所能够达到的精度.研究表明,如果利用BES-Ⅲ能够采集5(20)fb-1的ψ(3770)数据,D0→K-e+veπ-e+ve衰变分支比的测量精度可达到2.2(2.0)%及3.6(2.5)%.根据这两个过程分支比测量的精度,我们给出了实验测量D0介子半轻子衰变D0→K(π)-e+ve的形状因子f+f(π)(0)的测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李蕾	中科院高能物理研究所	1	0	0.0	0.0
2	荣刚	中科院高能物理研究所	1	0	0.0	0.0
3	马海龙	中科院高能物理研究所	1	0	0.0	0.0