HMX和RDX晶体微细结构μCT表征

• 作者: 宗和厚 张伟斌 戴斌
• 来源期刊: 含能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 材料科学 炸药晶体 缺陷 表征 微焦点X射线断层扫描技术(μCT)
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 514-517
• 分类号: TJ55|TB34
• 字数: 2581字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-9941.2010.05.008

摘要

利用微焦点CT技术研究了HMX和RDX单晶体和松装大量RDX晶体的微细结构,得到了炸药晶体的三维细微形貌、内部孔隙的定位定量、密度分布等信息,结果显示,结晶品质好的单晶体外观棱角分明,晶面光洁,内部密度均匀,但也有很多微孔隙; 而结晶品质较差的单晶体的表面不光滑,棱角不明显,内部孔隙数量多,有较大体积的孔洞,而且密度分布不均匀,有局部密度较高的区域.松装大量炸药晶体平均孔隙率及孔隙数量分布统计表明,经过特定工艺处理过的高品质与其原料相比在各个缺陷大小范围内数量减少,孔隙率减小; 在一定程度范围内,越小的孔洞数量越多,但对整个晶体的孔隙率影响越来越小,说明晶体内部微米级以上孔隙是影响晶体密度及其它性能的很重要的因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宗和厚	中国工程物理研究院化工材料研究所	13	63	5.0	7.0
2	张伟斌	中国工程物理研究院化工材料研究所	51	259	10.0	13.0
3	戴斌	中国工程物理研究院化工材料研究所	20	128	7.0	10.0