750 kV绝缘子串电位分布仿真及试验研究

• 作者: 曹晶 胡伟 谷莉莉 陈勇 霍锋
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 有限元法 静电场 电位分布 介电常数 绝缘子串 均压环
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 49-52
• 页数: 4页
• 分类号: TM216
• 字数: 3056字
• 语种: 中文

摘要

采用有限元数值分析法,针对750kV交流输电线路绝缘子片数及均压环配置,对绝缘子串电位分布进行了计算分析,比较了均压环均压深度、环径、管径及绝缘件介电常数对绝缘子电位分布的影响;对典型配置绝缘子"I"串进行了电位分布的测量研究,并将试验和计算的结果进行了对比分析.研究表明,均压环均压深度及环径对绝缘子电位分布影响较大,均压环管径及绝缘件介电常数对电位分布影响不明显;试验与计算的绝缘子最高分布电压百分比基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	霍锋		12	147	8.0	12.0
2	谷莉莉		7	96	6.0	7.0
3	陈勇		27	410	14.0	19.0
4	胡伟		10	148	7.0	10.0
5	曹晶		6	92	6.0	6.0