数字集成电路功能测试仪的设计与实现

• 作者: 詹惠琴 郝叶军
• 来源期刊: 电子测试
• 学科: 工学
• 关键词: 自动测试仪 芯片测试 功能测试 流水线技术
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 1-5,55
• 分类号: TP23
• 字数: 2683字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8519.2010.11.001

摘要

随着芯片速度和功能的不断提高,使芯片迅速投入量产变得困难.开发经济高效的测试仪器越来越重要.设计了一款基于E818管脚芯片最多128通道,IOMHz测试速率的功能测试电路板,输出驱动达到±8V,输入比较电平达到±6V,每个通道可以动态地设置成输入、输出或者是三态.选用Altera stratix系列FPGA芯片,运用流水线技术,格雷编码来优化程序,完成对管脚芯片的一系列摔制.采用阻抗匹配等手段解决信号完整信性问题.具有成本低廉,工作稳定,响应速度快的特点.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	詹惠琴	电子科技大学自动化工程学院	45	219	8.0	12.0
2	郝叶军	电子科技大学自动化工程学院	1	10	1.0	1.0