基于FPGA的数字IC交流参数测试系统研究

• 作者: 刘凤伟 古军 詹惠琴
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 延迟线 交流参数 数字集成电路 测试系统
• 年，卷（期）: 2010,（10）
• 页码范围: 12-15
• 分类号: TM935
• 字数: 2035字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2010.10.004

摘要

大规模集成电路的应用促进了国民经济的发展,同时带动了各类集成电路自动测试系统的发展,特别是高速器件的测试要求交流参数测试稳定性好,分辨率高.基于这一要求,介绍了数字集成电路交流参数测试系统的基本构成,并且介绍了数字集成电路交流参数测试的基本内容和测量方法,讨论了内插技术在时间测量上的应用和FPGA中专用时间进位链构建延迟线的基本方法,研究了该技术在数字集成电路交流参数测试仪上的应用,最后应用软件QuartusⅡ9.0验证了延迟线实现方法,并且给出了仿真波形和测试结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	詹惠琴	电子科技大学自动化工程学院	45	219	8.0	12.0
2	古军	电子科技大学自动化工程学院	32	212	8.0	13.0
3	刘凤伟	电子科技大学自动化工程学院	1	4	1.0	1.0