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• 来源期刊: 模具工程
• 学科: 工学
• 关键词: 层析X射线摄影法 测量技术 质量保证 无损测量 计量学 高精度
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 54
• 页数: 1页
• 分类号: TP391.41

摘要

METROTOM系统 METROTOM是测量技术的一次革命。 Metrotomography融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或根本不能进行质量保证的场合，现在可以进行高精度和无损测量。