瑞利信道中无线通信设备误码率测试仪实现

• 作者: 唐友喜 赵贤 邵士海 马万治
• 来源期刊: 电子测量与仪器学报
• 学科: 工学
• 关键词: 误码率 测试仪 瑞利衰落 信道 FPGA
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 414-419
• 分类号: TN911
• 字数: 2969字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1187.2010.00414

摘要

误码率是衡量无线通信设备性能的重要指标.为了获得待测设备在衰落信道下的误码性能, 传统方法需要进行外场实验, 成本高, 效率低.针对这一问题, 本文基于现场可编程门阵列(FPGA), 采用查找表正弦叠加法, 实现了能够模拟单径瑞利衰落信道的误码率测试仪.实验数据表明, 在置信度为0.95的假设检验中, 经过模拟信道的BPSK信号包络样本服从瑞利分布; 测量误比特率为10-3、观测样本数达到4×106个, 所研制误码率测试仪在理论误比特率± 5%的置信区间内, 置信度不小于0.99, 能够满足单径瑞利信道中无线通信设备的误码率性能测试, 有效降低了测试时间和成本.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐友喜	电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室	130	941	14.0	25.0
2	邵士海	电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室	44	280	8.0	15.0
3	马万治	电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室	7	55	5.0	7.0
4	赵贤	电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室	1	20	1.0	1.0