基于混沌序列的时序数字电路BIST技术

• 作者: 朱敏 杨春玲
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 时序电路 混沌 0-1序列 内建自测试 循环冗余校验
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 检测与诊断
• 页码范围: 144-149
• 分类号: TP702
• 语种: 中文

摘要

提出一种基于混沌序列的时序数字电路的内建自测试（BIST）技术。采用混沌logistic映射模型迭代运算产生具有白噪声特性的＂0-1＂随机测试序列,将其作为数字电路内建测试的自动测试图形,并利用循环冗余校验（CRC）特征分析电路分析输出响应,从而得到混沌序列测试图形的响应特征码,通过特征码的不同来检测故障。实验研究表明,由于混沌迭代序列测试图形的施加顺序不唯一,因此对于时序数字电路的故障检测而言,能够比普通M序列测试的故障检测率更高,易于BIST技术实现,并适合于FPGA等大规模可编程逻辑电路的自动测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨春玲	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	54	329	12.0	15.0
2	朱敏	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	18	83	5.0	8.0