基于动态局部重配置的FPGA抗辐射模拟

• 作者: 刘智斌 周学功 王伶俐 童家榕
• 来源期刊: 计算机工程
• 学科: 地球科学
• 关键词: 现场可编程门阵列 错误注入模型 动态局部重配置 JTAG边界扫描
• 年，卷（期）: 2010,（14）
• 页码范围: 218-220,226
• 分类号: N945.12
• 字数: 3820字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2010.14.079

摘要

提出一种与具体硬件结构无关、基于权重的错误注入模型,用于准确模拟基于SRAM的现场可编程门阵列抗辐射性能.提出基于JTAG边界扫描技术和动态局部重配置的错误注入模拟平台.实验结果证明,由该软件模型和硬件平台组成的错误注入系统具有良好通用性,能更准确、高效地进行模拟,且成本较低.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	童家榕	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	56	284	9.0	13.0
2	周学功	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	22	201	8.0	13.0
3	王伶俐	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	33	124	6.0	9.0
4	刘智斌	复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室	1	11	1.0	1.0