宇航用元器件锡晶须生长研究

• 作者: 刘燕芳 吴文章 孙旭朋 王群勇 白桦
• 来源期刊: 宇航材料工艺
• 学科: 航空航天
• 关键词: 航用元器件 锡晶须 失效模式 生长机理 减缓 检测方法
• 年，卷（期）: 2010,（3）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 13-17,22
• 分类号: V4
• 字数: 4193字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2330.2010.03.004

摘要

通过分析锡晶须的研究历史,将锡晶须的研究归结为三个阶段:早期对锡晶须现象的研究、锡晶须生长机理的研究和减缓锡晶须生长方法的研究.比较了锡晶须长度及密度的测量方法.总结了目前抑制锡晶须生长的方法:在不同基底材料上采用不同厚度镀锡层;使用Ni、In等阻挡层;对镀层表面进行热处理和回流处理;避免使用纯锡镀层,镀层合金化;在镀层表面覆盖保形涂层.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴文章		2	24	2.0	2.0
2	白桦		14	36	3.0	6.0
3	刘燕芳		6	35	3.0	5.0
4	孙旭朋		9	25	2.0	5.0
5	王群勇		6	23	3.0	4.0