稳态总剂量效应(TID)试验剂量率选择的研究

• 作者: 刘燕芳 姜大勇 王群勇 白桦 陈宇
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 稳态总剂量 剂量率 界面态 氧化物陷阱电荷
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 页码范围: 222-228
• 页数: 7页
• 分类号: TN386.1
• 字数: 4138字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2010.02.016

摘要

通过调研分析,发现ESA/SCC 22900和MIL-STD-883G方法1019.7在剂量率的选择等方面存在较大差异.针对美国宇航局NASA发布的TID试验报告中总剂量及其对应的剂量率值进行统计分析,了解到不同工艺器件进行TID试验时采取多步骤辐射,辐射过程中所选择的剂量率几乎均小于1rad(Si)/s,且剂量率随总剂量不断改变.当总剂量低于30krad(Si)时,曲线分布没有规律,随机性较大;当总剂量大于30ktad(Si)时,剂量率随总剂量的增加而增加,但不满足线性关系.针对不同剂量率辐射后器件失效机理的分析研究,得出器件在低剂量率辐射下失效的主要原因是界面态,而在高剂量率辐射失效的主要原因是辐射感生氧化物陷阱电荷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白桦		14	36	3.0	6.0
2	刘燕芳		6	35	3.0	5.0
3	王群勇		6	23	3.0	4.0
4	陈宇		4	14	2.0	3.0
5	姜大勇		2	6	1.0	2.0