电光调制晶体半波电压倍频测量方法的讨论

• 作者: 章毛连 郭明磊 韩新风
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 电光调制 半波电压 倍频法
• 年，卷（期）: 2010,（1）
• 所属期刊栏目: 光学计量与测试
• 页码范围: 105-109
• 页数: 5页
• 分类号: TN76|O436.4
• 字数: 1188字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2082.2010.01.024

摘要

在电光调制晶体的半波电压倍频法测量中,基于晶体电光效应分析了不同偏压下输出信号与调制信号之间的线性与倍频关系,并利用计算机模拟分析了调制信号的调制幅度对倍频信号的影响,分析结果表明倍频信号受高阶谐波分量的干扰产生波形畸变,不利于晶体半波电压的倍频法测量.提出利用李萨如图形的对称性来确定电光调制的倍频位置,克服了调制幅度波形畸变问题的干扰.通过对半波电压不同测量方法的实验测量和对比分析,说明该方法可操作性好,测量精确度也比直接观察倍频信号输出波形要高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章毛连	中国科学院等离子体物理研究所	6	60	4.0	6.0