故障树分析测试用例生成技术研究与应用

• 作者: 张军 漆莲芝 谢敏
• 来源期刊: 信息与电子工程
• 学科: 工学
• 关键词: 故障树分析 故障树最小割集 安全性约束条件 测试用例
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 页码范围: 594-597
• 分类号: TN91|TP311.5
• 字数: 3323字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-2892.2010.05.020

摘要

文章对采用故障树分析技术造成系统失效的各种软件因素进行分析,确定造成系统失效的各种原因组合.通过构造软件系统故障树,生成故障树的最小割集,分析各个割集的安全性约束条件,由安全性约束条件分析测试数据,最后生成测试用例的算法.将故障树分析技术用于指导软件测试设计,体现了以系统工程方法研究软件测试的系统性、准确性和预测性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	漆莲芝	中国工程物理研究院电子工程研究所	7	43	4.0	6.0
2	张军	中国工程物理研究院电子工程研究所	25	34	3.0	5.0
3	谢敏	中国工程物理研究院电子工程研究所	36	277	9.0	16.0