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摘要:
理论分析和实验研究了强度调制偏振光谱仪系统参数的设计.介绍了强度调制偏振光谱仪的结构原理,分析了调制器设计、光谱仪选型与系统指标间的匹配关系.给出了一个完整的设计实例,以搭台方式建立了强度调制偏振光谱仪原理实验装置,并对平行光管直接输出的光和经起偏器起偏后输出的光进行了偏振光谱测量和分析.结果表明:在有效测量波段内(525~700 nm),以卤钨灯为光源的平行光管直接输出光的偏振度值<10%;经过线偏振器起偏后输出光的偏振度值接近100%,与理论分析的结果一致,验证了基于强度调制技术设计偏振光谱仪方法的可行性.
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文献信息
篇名 强度调制偏振光谱仪的系统设计
来源期刊 光学精密工程 学科 工学
关键词 光学测量 偏振光谱仪 强度调制 解调
年,卷(期) 2010,(11) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 2325-2331
页数 分类号 TP73|TH744.1
字数 3959字 语种 中文
DOI 10.3788/OPE.20101811.2325
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 洪津 中国科学院通用光学定标与表征技术重点实验室 129 1315 20.0 32.0
2 乔延利 中国科学院通用光学定标与表征技术重点实验室 125 1644 22.0 35.0
3 宋志平 中国科学院通用光学定标与表征技术重点实验室 11 74 6.0 8.0
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光学精密工程
月刊
1004-924X
22-1198/TH
大16开
长春市东南湖大路3888号
12-166
1959
chi
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