一种基于多目标约束的互连线宽和线间距优化模型

• 作者: 万达经 朱樟明 杨银堂
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 多目标约束 曲线拟合 互连线尺寸 纳米级集成电路
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 4837-4842
• 分类号: O4
• 语种: 中文

摘要

优化线宽和线间距已经成为改善系统芯片性能的关键技术.本文基于互连线线宽和线间距对互连延时、功耗、面积和带宽的影响,提出了基于多目标优化方法实现优化线宽和线间距的思路,并利用曲线拟合方法得到了多目标约束的解析模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨银堂	西安电子科技大学微电子学院	420	2932	23.0	32.0
2	朱樟明	西安电子科技大学微电子学院	164	1318	18.0	26.0
3	万达经	西安电子科技大学微电子学院	1	2	1.0	1.0