弥散加权成像在弥漫性轴索损伤伤情判断和预后评价中的应用价值

• 作者: 吴芳芳 张红 李志鑫 段志新 王洪财 马延斌
• 来源期刊: 中华创伤杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 脑损伤 弥漫性轴索损伤 磁共振成像
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 颅脑损伤
• 页码范围: 142-145
• 页数: 4页
• 分类号: R6
• 字数: 2989字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3760/cma.j.issn.1001-8050.2010.02.016

摘要

目的 探讨弥散加权成像(DWI)对弥漫性轴索损伤(DAI)患者伤情判断和预后评估的价值. 方法 回顾性分析29例DAI患者临床影像学资料及伤后6个月随访结果,比较DWI与常规MRI序列脑内病灶的检出数,分析DWI中不同部位病灶数与患者相应GCS、GOS评分的关系. 结果 (1)29例各序列脑内DAI病灶平均检出数为:DWI(19.24±5.72)个,FLAIR(14.41±4.50)个,T2WI(10.58±3.79)个,T1WI(4.83±2.11)个.DWI的病灶检出数最高,与其他序列比较差异有统计学意义(P<0.05).(2)脑中轴(胼胝体、基底节区、脑干)病灶数与GCS、GOS评分旱负相关(P<0.05),总病灶数及外周病灶数与GCS、GOS评分均无相关性(P>0.05).结论 DWI为DAI病灶检出的敏感序列,脑巾轴病灶检出数可作为DAI患者伤情判断和预后评估的客观指标.