低相噪锁相介质振荡器研究

• 作者: 何庆国 宋学峰
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相位噪声 介质振荡器 取样锁相环 联合仿真 计算机辅助设计
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 1126-1129
• 分类号: TN753.9
• 字数: 1410字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353x.2010.11.019

摘要

针对高的相位噪声指标要求,对取样锁相介质振荡器进行了研究.通过相位噪声分析,明晰了采用介质振荡器与取样锁相技术降低相位噪声的机理,并分别对介质振荡器与锁相环路进行了设计.设计中,应用HFSS与ADS对介质振荡器进行了联合仿真,体现了计算机辅助设计的优势.最终研制出17 GHz锁相介质振荡器,测试结果为:输出功率13.1 dBm;杂波抑制>70 dB;谐波抑制>25 dB; 相位噪声为-105 dBc/Hz@1 kHz,-106 dBc/Hz@10 kHz,-111 dBc/Hz@100 kHz,-129 dBc/Hz@1 MHz.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何庆国	中国电子科技集团公司第十三研究所	11	23	2.0	4.0
2	宋学峰	中国电子科技集团公司第十三研究所	8	13	2.0	3.0