航天用CAST C级半导体分立器件的检测与验收

• 作者: 马继铭
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 航空航天
• 关键词: CAST C 检测 验收
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 111-111
• 分类号: V243
• 字数: 1674字
• 语种: 中文

摘要

CAST C等级的产品现广泛应用于我国重大军用项目的生产制造中.其中,检测与验收是该产品在生产使用中的重要环节,也是产品质量的核心保障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马继铭		3	2	1.0	1.0