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摘要:
介绍了对金锡(Au-Sn)及金锗(Au-Ge)二元合金相图、Au-Sn及Au-Ge钎料的综合性能,讨论了Au-Sn及Au-Ge钎料在芯片封装领域的应用.基于金基钎料(Au-Sn、Au-Ge)采用BTU烧结炉研究了毫米波T/R组件连接技术,研究了芯片共晶焊接技术和组件气密封装技术.试验结果表明,共晶焊接试验芯片通过X-ray检测焊透率高于95%,焊接接头剪切强度满足国军标要求;组件气密封装试验组件气密性达到10-10Pa·m3/s,毫米波T/R组件电性能测试满足设计要求.
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文献信息
篇名 基于金基钎料的毫米波T/R组件连接技术研究
来源期刊 现代雷达 学科 工学
关键词 金锡 金锗 毫米波 T/R组件 连接
年,卷(期) 2010,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 60-62,66
页数 分类号 TM93
字数 1685字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-7859.2010.12.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘刚 29 182 8.0 12.0
2 严伟 31 397 9.0 19.0
3 许立讲 4 11 2.0 3.0
4 李孝轩 16 127 7.0 11.0
传播情况
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现代雷达
月刊
1004-7859
32-1353/TN
大16开
南京3918信箱110分箱
28-288
1979
chi
出版文献量(篇)
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