基于数字电视基带SoC芯片的可测性设计

• 作者: 乔树山 孙博 黑勇
• 来源期刊: 电视技术
• 学科: 工学
• 关键词: SoC 可测性设计 扫描链 测试系统
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 47-49,73
• 分类号: TN949.197
• 字数: 2473字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8692.2010.07.014

摘要

介绍了基于数字电视基带SoC芯片的可测性设计方案.根据系统中不同模块的特点采取有针对性的可测性设计方案,对片内存储器进行内建自测试;对组合逻辑电路、时序逻辑电路采用近全扫描的测试方案;最后采用IEEE1149.1的控制单元作为芯片可测性设计部分的控制单元,控制芯片的测试功能.经测试,该可测性设计满足设计规划的面积和功耗的要求,并且系统的测试覆盖率达到了99.26%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙博		1	5	1.0	1.0
2	黑勇		1	5	1.0	1.0
3	乔树山		1	5	1.0	1.0