基于CCD和FPGA的光栅位移测量系统

• 作者: 常丽 李健强
• 来源期刊: 仪表技术与传感器
• 学科: 工学
• 关键词: 光栅 CCD FPGA FFT
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 研究与开发
• 页码范围: 103-105
• 分类号: TP216
• 字数: 3798字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-1841.2010.05.037

摘要

介绍了一种基于CCD和FPGA的光栅位移测量技术,建立了光栅位移测量系统.系统由线阵CCD采集光栅莫尔条纹,将检测到的莫尔条纹通过A/D转换器输入FPGA处理器,FPGA处理器对采集到的莫尔条纹信号进行处理,利用FFT变换求取信号相位的变化,再根据相位的变化求出位移值.文中详细介绍了工作原理的推导过程、CCD驱动控制、信号预处理以及FFT变换在FPGA中的设计实现.实验验证该系统抗干扰能力强,对光栅信号质量要求不高,能到达较高的细分数,并且系统集成度高,开发成本低,运行稳定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	常丽	沈阳工业大学信息科学与工程学院	22	122	6.0	10.0
2	李健强	沈阳工业大学信息科学与工程学院	1	16	1.0	1.0