标准椭圆封头失效原因分析

• 作者: 严永江 孙爱萍 许彦春
• 来源期刊: 腐蚀与防护
• 学科: 工学
• 关键词: 封头 应力腐蚀 失效分析
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 732-733
• 页数: 2页
• 分类号: TG172.9
• 语种: 中文

摘要

某制药企业夹套储罐下部标准椭圆封头运行6个月后,产生了穿透裂纹.本工作对此裂纹原因进行了分析.分析认为,该失效形式为应力腐蚀失效,其产生原因为塑性变形、氧浓差电池的形成以及残余应力的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙爱萍		24	78	5.0	8.0
2	许彦春		10	39	4.0	6.0
3	严永江		16	61	4.0	7.0