电子快门与CCD图像传感器抗晕的研究

• 作者: 武利翻
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: CCD 光晕 抗晕 器件仿真
• 年，卷（期）: 2010,（8）
• 页码范围: 18-19,24
• 分类号: TP212
• 字数: 1161字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7820.2010.08.006

摘要

为了抑制CCD图像传感器在强光照射时出现光晕和弥散现象,运用半导体器件数值模拟软件MEDICI,对建立的纵向抗晕CCD器件模拟结构进行数值计算,并分析1 PW层硼掺杂浓度参数对CCD纵向抗晕能力的影响,并对CCD纵向抗晕结构进行优化结构.而电子快门就是利用纵向抗晕的工作原理而发展的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	武利翻	西安邮电学院电子工程学院	11	17	2.0	3.0