磁头内置DFH控制元件的过载荷可靠性分析和磁头温升实验设计

• 作者: 刘建平 梁来朋 肖祥慧 黎福海
• 来源期刊: 科技导报
• 学科: 工学
• 关键词: 动态飞行高度 磁头 原子力显微镜 温升
• 年，卷（期）: 2010,（21）
• 页码范围: 30-33
• 分类号: TP211+.5
• 字数: 2017字
• 语种: 中文

摘要

结合原子力显微镜(AFM)测试方法,从形变的性质和大小角度评估磁头内置动态飞行高度(DFH)控制元件,结果表明,即使在长时间过流的情况下,磁头内置DFH控制元件的突起仍属于弹性形变,未发生永久塑性形变:静止空气冷却条件下,磁头内置DFH控制元件的结构变形量与能量呈线性关系.采用脉冲式电场的破坏性测试方法,对磁头内置DFH控制元件进行过压击穿测试,测试结果表明,实际产品的击穿电压在安全区以外.论证了静止碟面加冷却膏法的可行性,进一步简化了磁头温升的实验过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黎福海	湖南大学电气与信息工程学院	121	706	14.0	19.0
2	肖祥慧	湖南大学电气与信息工程学院	9	76	4.0	8.0
3	刘建平	湖南大学电气与信息工程学院	9	155	5.0	9.0