小通道振荡导致密度锁失效研究

• 作者: 于沛 王升飞 谷海峰 阎昌琪
• 来源期刊: 核动力工程
• 关键词: 密度锁 振荡 失效 结构
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 页码范围: 75-79
• 分类号: TL364
• 语种: 中文

摘要

对密度锁内小通道振荡现象进行实验研究,发现密度锁失效是由于某一小通道内的分层界面在振荡过程中超出栅格,从而在小通道间形成循环所致.通过理论分析,提出3种解决方法:改变通道管径、减小通道间压差和扰动均匀化,以此为依据设计密度锁结构并进行实验进行验证.结果表明:改变通道管径只有在振荡界面通过管径变化处时才起作用;减小通道间压差的方法则需增加密度锁长度;扰动均匀化是最佳方法,可有效地减弱振荡幅度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阎昌琪	哈尔滨工程大学核科学与技术学院	236	1708	18.0	24.0
2	王升飞	哈尔滨工程大学核科学与技术学院	7	15	2.0	3.0
3	谷海峰	哈尔滨工程大学核科学与技术学院	44	107	6.0	8.0
4	于沛	哈尔滨工程大学核科学与技术学院	6	0	0.0	0.0