Mn掺杂Sic磁性薄膜的结构表征

• 作者: 任鹏 刘忠良 唐军 姚涛 徐彭寿 闫文盛 韦世强
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 磁性薄膜 分子束外延 X射线衍射 X射线吸收近边结构谱
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 4774-4780
• 分类号: O4
• 语种: 中文

摘要

利用反射式高能电子衍射(RHEED),X射线衍射(XRD)和X射线吸收近边结构谱(XANES)等技术研究了在950℃条件下Si(111)衬底上共蒸发分子束外延方法制备的Mn掺杂Sic磁性薄膜的结构特征.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐彭寿	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	70	488	10.0	19.0
2	任鹏	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	14	55	5.0	6.0
3	姚涛	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	16	122	8.0	10.0
4	刘忠良	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	17	101	6.0	9.0
6	唐军	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	19	349	7.0	18.0
7	闫文盛	中国科学技术大学国家同步辐射实验室	17	35	3.0	5.0