基于微分环干涉技术的光纤长度测量系统

• 作者: 吴东方 张天照 董翔
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤 长度测量 微分环 3×3耦合器 压电陶瓷
• 年，卷（期）: 2010,（7）
• 页码范围: 104-106
• 分类号: TP212
• 字数: 2012字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-2552.2010.07.028

摘要

设计了一种利用全光纤干涉系统来精确测量光纤长度的方法.该系统主要由3×3光纤耦合器构成的双光纤微分环和起到相位调制作用的压电陶瓷组成,在微分干涉原理的基础上,对各自通过参照光纤和待测光纤形成的干涉光信号进行相位解调,从而求得待测光纤的长度.实验结果表明测量的光纤长度和已知值一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴东方		1	2	1.0	1.0
2	张天照		1	2	1.0	1.0
3	董翔		1	2	1.0	1.0