USB总线技术在大容量存储测试系统中的应用

• 作者: 崔亮飞
• 来源期刊: 仪表技术
• 学科: 工学
• 关键词: 通用串行总线 大容量存储测试 通用可编程接口
• 年，卷（期）: 2010,（11）
• 页码范围: 62-64
• 分类号: TP39
• 字数: 3314字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-2394.2010.11.021

摘要

文章针对大容量存储测试系统具体设计了USB接口电路,对应其1G的存储容量,采用了高速的通用可编程接口(GPIF).围绕着GPIF和外围设备的通信做了硬件设计,重点讨论了外围设备的控制逻辑时序.