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安捷伦将先进的测量技术引入到PXI和AXIe领域
安捷伦将先进的测量技术引入到PXI和AXIe领域
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摘要：
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文献信息
| 篇名 | 安捷伦将先进的测量技术引入到PXI和AXIe领域 | ||
| 来源期刊 | 中国电子商情·基础电子 | 学科 | |
| 关键词 | |||
| 年，卷（期） | 2010,（11） | 所属期刊栏目 | |
| 研究方向 | 页码范围 | 18-19 | |
| 页数 | 分类号 | ||
| 字数 | 1734字 | 语种 | 中文 |
| DOI | |||
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