基于March C-算法的单片机存储器测试

• 作者: 于文考 张栋 高成
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 单片机 March C-算法 存储器测试 故障覆盖率
• 年，卷（期）: 2010,（6）
• 所属期刊栏目: 设计验证与测试
• 页码范围: 19-21,33
• 页数: 4页
• 分类号: TP333
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2010.06.006

摘要

为了保证单片机系统的可靠性,对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要.根据MCS-51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型,研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题,首次提出将March C-算法用于单片机内嵌存储器的用户级测试程序编写.该测试程序对SAF,TF,AF,CF的故障覆盖率可达到100%,并且能够检测部分NPSF故障,具有较高的故障覆盖率,适合于对用户级MCS-51系列单片机存储器的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张栋		24	177	7.0	12.0
2	高成		42	195	8.0	13.0
3	于文考		1	17	1.0	1.0