重影和印迹滑移的分析比较

• 作者: 余节约 田培娟
• 来源期刊: 印刷质量与标准化
• 学科: 工学
• 关键词: 滑移 印迹 重影 网点扩大 生产过程 压力作用 实地密度 允许值
• 年，卷（期）: 2010,（12）
• 所属期刊栏目: 标准
• 页码范围: 62-64
• 分类号: TS827
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5602.2010.12.031

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田培娟	杭州电子科技大学新闻出版学院	40	35	3.0	5.0
2	余节约	杭州电子科技大学新闻出版学院	65	46	4.0	4.0