基于C++Builder数据库的数字芯片测试系统软件设计

• 作者: 蒋乃波
• 来源期刊: 电子质量
• 学科: 工学
• 关键词: C++ Builder 数据库 数字芯片测试 测试数据
• 年，卷（期）: 2010,（5）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术
• 页码范围: 10-12
• 分类号: TP311
• 字数: 2019字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2010.05.004

摘要

针对生产数字芯片种类多数量大和测试方法自动化程度低的问题,设计了一种基于C++Builder数据库技术的数字芯片测试系统,实现数字芯片测试的自动化、可视化,从而提高了测试系统的效率,并可实现数字芯片的准确故障定位,根据检测数据进行故障分析,适时提供了维修指南,有效弥补了现有检测手段与方法的不足.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蒋乃波	中国电子科技集团公司第四十一研究所	3	0	0.0	0.0