基于VMM的外部存储接口模块的验证平台搭建

• 作者: 刘新宁 刘旭恒 吴秀龙 康军
• 来源期刊: 电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: VMM 验证平台 验证组件
• 年，卷（期）: 2010,（9）
• 页码范围: 61-62,53
• 分类号: TP3
• 字数: 2210字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2010.09.025

摘要

本文首先介绍了VMM层次化验证方法学的基本思想和方法,将其与传统的芯片验证技术进行了对比,并进一步对基于VMM(Verification Methodology Manual For SystemVerilog)方法学的验证平台结构和各个组成模块进行了详细的介绍.最后以外部存储接口(EMI)模块为例对VMM验证平台的搭建进行了具体说明,并给出了验证结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴秀龙	安徽大学电子科学与技术学院	56	135	6.0	8.0
2	刘新宁	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	27	264	7.0	15.0
3	康军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	2	14	2.0	2.0
4	刘旭恒	安徽大学电子科学与技术学院	1	3	1.0	1.0