遗传粒子群算法在测试节点优选中的应用

• 作者: 刘飞 谷宏强 郭利
• 来源期刊: 弹箭与制导学报
• 关键词: 测试节点优选 遗传算法 粒子群算法
• 年，卷（期）: 2010,（2）
• 所属期刊栏目: 相关技术
• 页码范围: 253-255
• 分类号: TN407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-9728.2010.02.075

摘要

测试节点优化是电路板测试诊断设计优化过程中的一个基本问题,属于经典的N-P难题,但目前用于测试点优化的算法存在搜索速度慢、不收敛等问题,因此提出一种基于遗传粒子群优化算法.该方法通过建立电路测试节点的"故障-测试"矩阵,用遗传算法对数学模型进行优化,并采用粒子群算法搜索实现了快速求解.与传统方法相比较,该方法搜索速度快,优化效果明显,已在工程实践中得到应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘飞		1	3	1.0	1.0
2	谷宏强		4	31	3.0	4.0
3	郭利		2	4	1.0	2.0